Agilent Medalist i3070
- 產(chǎn)品名稱：Agilent Medalist i3070
- 產(chǎn)品型號：hp3070/i3070/agilent3070
- 產(chǎn)品廠商：agilent
- 產(chǎn)品文檔：
Agilent Medalist i3070
的詳細(xì)介紹描述
Agilent Medalist i3070 5 系統(tǒng)不僅提供在線測試能力而且還具有其他測試功能，可對 PCBA 進(jìn)行*廣泛的測試，因而能夠滿足大多數(shù)主流電子產(chǎn)品制造商的需求。對于那些需要更少節(jié)點(diǎn)測試功能的客戶來說，i3070 雙模塊選件是理想的選擇。
所有Agilent Medalist i3070 系列 5 測試系統(tǒng)均加入了新的基礎(chǔ)架構(gòu)，以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設(shè)備或儀器。該系統(tǒng)允許將外部電子設(shè)備插入測試機(jī)臺，如同該設(shè)備已經(jīng)集成到系統(tǒng)中。外部電子設(shè)備可以是功能性測試電路，用于為 ICT 提供額外的功能測試范圍，或者為被測單元提供額外的激勵，以提高測試覆蓋率。外部電子設(shè)備控制、測試順序和測試結(jié)果仍通過 BT-BASIC 測試程序來實(shí)現(xiàn)，由用戶熟悉的測試機(jī)臺的電腦實(shí)施。
為了支持增強(qiáng)的性能，PCBA 如今擁有更高的電流要求，因此可通過測試儀向被測單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經(jīng)過多路復(fù)用處理，所以一個(gè)電源可以*多向一個(gè)面板中不同的 6 個(gè)電路板供電，每個(gè)電源通道都由一個(gè)繼電器控制，以保護(hù)被測單元。
i3070 系列 5 測試系統(tǒng)包含了一個(gè)新的模擬激勵和測量單元（ASRU），可將模擬測試速度提高 20%，進(jìn)而提高產(chǎn)量。
此前版本中的受限接入測試工具也包含在該測試系統(tǒng)中。
如果您的大型電路板需要速度更快，測試覆蓋率更高的測試，那么，E9903E i307x 系列 5 系統(tǒng)將是*佳選擇。
所有 Agilent Medalist i3070 測試系統(tǒng)都支持多路復(fù)用（Mux）pin卡和非多路復(fù)用（UnMux）pin卡。這樣，在您使用該系統(tǒng)時(shí)就會有更多的靈活性。
| 特性 | Analog Plus (Mux) | Access Plus (Mux) | Hybrid Plus (Mux) | Hybrid 144 (Unmux) |
|---|---|---|---|---|
| 每個(gè)pin卡的測試節(jié)點(diǎn) | 144 | 8 x 高頻率 10:28 儀器端口 24 x 通用繼電器 | 144 | 144 |
| 每個(gè)pin卡的數(shù)字通道 | 無 | 無 | 16 | 144 |
| *大數(shù)字向量執(zhí)行速率/頻率 | 無 |
高頻：100MHz 儀器端口：25MHz 通用繼電器：無 |
6/12/20 MPS | 6 MPS |
| 每個(gè)模塊/系統(tǒng)的*大pin卡數(shù)** | 9/18 | 9/18 | 9/18 | 9/18 |
| 模擬電壓范圍 | 0-100V | 0-100V | 0-100V | 0-100V |
| 數(shù)字驅(qū)動/接收范圍 | 無 | 無 | -3.5 至 5.0V | 0 至 4.75V |
| 數(shù)字測試的向量周期精度 | 無 | 無 | +/- 10 nS | +/- 10 nS |