電性能測試主要是測試基板線路的導通性（Continuity）及絕緣性（Isolation），導通性測試是指通過測量同一網絡內結點間的電阻值是否小于導通閥值從而判斷該線路是否有斷開現象，即通常所說的開路；絕緣測試是指通過測量不同網絡的結點間的電阻值是否大于結緣閥值從而判斷絕緣網絡是否有短路現象。隨著線路緊密的增加，電性能測試的難度也隨之增加，相繼產生了新的測試技術以應對PCB行業的閥值，導致測試難度增加的主要因素有：基板表面的PAD大小、PAD跨距（Pitch）、導線間距縮小使導通孔徑縮小，PAD表面鍍層的壓痕限制、測量阻值精度要求的提高、測試速度要求的提高等因素。下面將從測試原理上對當今PCB測試的解決方案加以闡述。

    PCB電性能測試從原理上可分為兩類：電阻法測試你和電容法測試；電阻法測試又可分成二端式測試、四端式測試；按照測試探頭是否與PCB完全接觸劃分又可分為接觸式測試和非接觸式測試。

1.       兩端式測試

在接觸式測試中兩端式測試是目前普遍應用的一種方案，測試的精度雖然不高（1Ω），但是用來判斷線路的開短路已經能滿足絕大部分的線路板的需要，因四端式測試還不能滿足高密度的線路板測試，只有在密度不高電阻電容類的線路板上應用。

2.       與PCB測試點連接的方法

主要有三種方式，一是有夾具測試，探針按照線路板的測試點位置排布在測試夾具上與PCB相應的測試點相連；二是無夾具的移動探針式測試（又稱飛針測試），該種方式只有幾根探針，探針在線路板上快速移動與測試點接觸；三是JP導電膠測試，利用電膠的各項異性實現連接。

3.       專用測試

使用繞線或電纜連接的方式制作的夾具，通常稱為專用夾具。利用專用夾具測試稱為專用測試。

優點：結構簡單，技術難度小，設備成本低。

缺點：密度高，點數多時，成本*高，所以在高密度測試時，一般不推薦使用。

在日本，由于測試針的尺寸可以做到非常小（ <0.1mm=所以在小面積的高密度測試時，也較常使用此類測試，但一般配置CCD系統或移動夾具測試。

4.       飛針測試

分針測試是測試探頭在線路板上快速逐點移動來完成測試，一般是先利用電容法測試，當測得電容不在合格范圍內時再用電阻法進行準確確認。每個測試探頭由精密的傳動系統控制運動位置，位置精度可達到0.01mm，故可以測試密度較高PAD較小的線路板，飛針測試也需測試夾具，又節省了夾具制作成本，但是分針測試的速度與夾具測試相比，就非常地慢，且探頭的壽命也不如人意，只能適合批量較小的生產。飛針測試機按照裝板方式分立式和臥式，按照探針頭數量分有2頭、4頭、8頭、16頭甚至32頭。

5.       JP夾具（垂直導電橡膠）

JP治具時由一種特殊的導電材料PCR(Perssure sensitive Conductive Rubber)及PTB（Pitch Translation Board）制作而成，該材料的導電性能具有各項異性的特點，PCR材料只有在Z軸向下受壓的方向形成電流導通，橫向絕緣。測試不需要夾具，只需傳送板作為介質，因質地較軟且與線路板以面相接觸，故不會對PAD表面造成損傷性壓痕。其垂直導電的單元非常小，可達到0.07mm2所以也可以對密度非常高的線路板進行測試。

優點：夾具安裝時間短，開短路測試通過率高。

缺點：導電膠壽命短，要定期更新。否則的話，它會把線路盤嚴重地污染掉。