jet300nt程序調(diào)試及原理
FET可分為二種：a. JFET、b. MOSFET 空乏型及增強型。
a. MOSFET增強型如圖：
程式設(shè)定如下：

Device	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	A	B	G1
Q1	0	0.7V	30%	30%	DT	3	2
Q1	0.2	3V	10%	70%	N	2	3	1

控制閘極(gate)電壓由2V~3V直到導(dǎo)通為止，即可測試出來。
b. JFET. MOSFET空乏型

程式設(shè)定如下：

Device	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	A	B	G1
Q1	3	3V	30%	30%	PF	2	2	1
Q1	0.2	01V	30%	90%	N	2	3	1

控制閘極(gate)電壓直到夾止。

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　2. 試問如何用三端點量測法來測試電晶體 ?　

日規(guī)電晶體量測只須量BC、BE兩端之二極體，就可量測到是否空焊反接(如程式1、2項)，但美規(guī)電晶體由於Base腳在中間，因此須用三端點來量測 (程式第3項)，才能偵測到反接的問題。

程式設(shè)定如下

STEP	Device	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	A	B	G1
1	Q1	0	0.7V	30%	30%	DT	1	2
2	Q1	0	0.7V	30%	30%	DT	1	3
3	Q1	0.2V	1V	10%	-90%	N	2	3	1

控制基極(B)電壓，使電晶體飽合。

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　4. 試問JET-300可否擴充成雙壓床 ?　

可。只須將程式JET300N.EXE RENAME成JET300D.EXE。再將MotherBoard上ReTest跳線拿掉，機器便可使用雙壓床。

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　5. 如何判斷TestJet硬體本身好壞或裝配是否良好 ?　

量Testjet sensor plate 二端， 先到編輯程式將cursor移至待測sensor plate測試項目，按F9

　1.當(dāng)Vdc=0V時， 可能：
　　a. 探針號碼設(shè)定有誤
　　b. SYSTEM BOARD，MULTIPLEX BOARD 或.CABLE**
　　c. 有斷線現(xiàn)象
　2.當(dāng)Vdc=5V時，sensor plate有斷開現(xiàn)象
　3.當(dāng)Vdc=0.7V時，sensor plate有裝反現(xiàn)象
　4.當(dāng)Vdc=4.5V時，sensor plate裝配正常. 如果sensor的量測不正常， 則應(yīng)是sensoramplifier損壞.
 

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6.試問壓床的蜂巢板壓下後不會自動測試是那裡有問題　?

　1. 程式狀態(tài) (status)下未設(shè)定自動 (Fix auto ON)
　2. 氣壓缸上底部的近接開關(guān)未調(diào)整定位
　3. SYSTEM BOARD、CABLE或光電控制板**
　4. 壓床控制線鬆動
 

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　7. 試問小電阻如何量測 ?　

一般小電阻量測(0.1Ω~2Ω)，可以把它當(dāng)成JUMPER的方式測量但只可量測有無缺件. 若需較精確的量測，就須用四端量測.原理如下：

　a. relay board需做以下修改，JA， JB， JC 跳線拿掉， 使之開路OPEN。
　b. JA0， JA1， JA2， JA3， JB0， JB1， JB2， JB3， JG0， JG1， JG2， JG3
　　原本短路情況為　
　　將其斷開，短路另一側(cè)。
　　　　　　　　　　
　c. 此時Relay board只剩下32點， 因為**連接器已被當(dāng)成sense使用。
　d. 程式方面須做如下設(shè)定：

Device	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	A	B	G
R1		0.1	30%	30%	D1	1	2

　e. 在此設(shè)定下，電阻值*小可量測到0.01Ω。

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　8. 試問 JET-300 可否可做 Functional test?　

可。目前本公司只提供+5V、-5V、+12V、+3.3V。

硬體方面， 治具須追加一個molex 7 pin母座之轉(zhuǎn)換板，以做為插槽之用，程式方面則須做以下設(shè)定。

STEP	Device	Lc	STD	ACT	+%	-%	MD	TM	A	B	1	2	3	4	5	6	7	8	9	A	B	C	D	E	F	G	E
1	Vcc	A1	5	0V	5	5	HV	10	2	5	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
2	Vcc3	A1	3.3	0V	5	5	HV	0	10	5	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
3	END	A1	1	0V	5	5	HV	10	2	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1

在程式編輯下按"ALT+K"會顯示編輯Relay碼。將STEP 2之第4及e填入1，
並將 Relay 開啟送出所需電源。量完須關(guān)閉電源。 (如STEP3)

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　9. 試問二個並聯(lián)二極體 (如下圖) 如何量測 ?　

二極體並聯(lián)須用CM mode 量測。程式須設(shè)定如下：
 

STEP	Device	Lc	STD	ACT	+%	-%	MD	RG	TM	A	B
1	D1	A1	0	0.7V	30	30	DT	0	0	10	20
2	D1	A1	40mA	0.7V	10	10	CM	0	0	10	20

STEP2須加電壓(ACTVAL) 0.6V左右，調(diào)整ACTVAL電壓使其電流量到約40mA。

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　10. 試問Debug RelayBoard出現(xiàn)錯誤訊息時， 如何判斷那塊板子的那個Relay 有問題 ?　

茲舉例說明之：
 

Open on B130 (B3: P2)

意指B開關(guān)第3片板的第2點B Relay損壞，因此只要將該Relay換掉即可。

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　11. 電容極性如何量測 ? 　

(1)漏電流量測：
　假設(shè)C1為100uF25V，將程式修改為STEP 2，按F9測試量測電容之正常漏電流，
　並將它填入STDVAL，如果C1反向則漏電流會增大

STEP	DEVICE	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	A	B
1	C1	0	100uF	30	30	DT	10	20
2	C1	1.4mA	10V	30	30	CM	10	20

　註：每個電容值耐壓都有不同，所以在ACTVAL之電壓是不一定的。

(2)三端點量測：
　此方法用於量測電解電容，此量測法須於電容上端栽針(如圖)，程式修改如下：

STEP	DEVICE	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	T	A	B	G
3	C2	0	10uF	30	30	DC	0	10	20	0
4	C2	0.1	0.2V	30	0	LV	10	30	10	20

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　12. 如何量測電晶體β值 ? 　

NPN電晶體：
　A點接Q3~c，B點接Q3~e，G1點接Q3~b
　ACTVAL 送出Vb電壓(0~5V)；MD為N，RG為+1，STDVAL填入β值，調(diào)整Vb電壓，
　使其讀到之β值為*大*穩(wěn)定如( STEP 1 )
PNP電晶體：
　A點接Q4-e，B點接Q4-c，G1點接Q4-b
　ACTVAL送出Vb電壓(5~0V)；MD為P， RG為+1，STDVAL填入β值，調(diào)整Vb電壓，
　使其讀到之β值為*大*穩(wěn)定( STEP 2 )
 

STEP	DEVICE	LC	STDVAL	ACTVAL	+%	-%	MD	RG	TM	A	B	G1	G2
1	Q3	D1	100	1.0V	30	30	N	1	5	2	3	1	0
2	Q4	D1	100	4.1V	30	30	P	1	5	2	3	1	0

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　13.如何量測主機板上電源穩(wěn)壓IC之輸出電壓 ? 　

首先需要外加電源， 機器的修改方法如附圖A。
　a. 治具追加一個有Molex 7 pin母座之轉(zhuǎn)換版。
　b. Pin 1 (輸出為5V)接至 NET NAME 為 VCC的探針 (預(yù)設(shè)為2號探針)。
　c. Pin 2 (為電源輸出的GND)接至 NET NAME 為GND的探針 (預(yù)設(shè)為5號探針)。
　d.Pin 7(輸出為3.3V) 接至 NET NAME 為VCC3的探針 (預(yù)設(shè)為10號探針)。
　e. 參考附圖B及下列程式， 便可測試其電源穩(wěn)壓IC之輸出電壓VCC2， VTT。
 

STEP	Device	Lc	STD	ACT	+%	-%	MD	RG	TM	A	B	1	2	3	4	5	6	7	8	9	A	B	C	D	E	F	G	E
1	Vcc	A1	5	0V	10	10	HV	0	10	2	5	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
2	Vcc3	A1	3.3	0V	10	10	HV	0	0	10	5	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
3	END	A1	12V	0V	5	5	HV	0	0	15	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
4	+12V	A1	2.5	0V	5	5	HV	0	0	80	5	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
5	V2.5	A1	2.1	0V	5	5	HV	0	0	99	5	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
6	VTT	A1	1mA	0.1V	00	00	CM	0	10	2	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
7	END	A1	1mA	0.1V	00	00	CM	0	10	2	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
8	END	A1	0.1	0V	10	00	HV	0	10	2	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
9	END	A1	1mA	0.1V	00	00	CM	0	10	10	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
10	END	A1	0.1	0V	10	00	HV	0	10	10	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
11	END	A1	1mA	0.1V	00	00	CM	0	10	15	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
12	END	A1	0.1	0V	10	00	HV	0	10	15	5	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1

　假設(shè)STEP 8， 10 和12未放它至0.1V以下， 須增加STEP 7， 9 和11的TM值，
　繼續(xù)量測直到STEP 8， 10 和12的STD 值至0.1V以下

jet300nt程序調(diào)試及原理